MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE
Guardado en:
1794-1237
2463-0950
4
2013-10-09
9
24
info:eu-repo/semantics/openAccess
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0.
Revista EIA - 2013
id |
0e5df565d196f2302402cc289408ae94 |
---|---|
record_format |
ojs |
spelling |
MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE 4 Fondo Editorial EIA - Universidad EIA Artículo de revista 7 Revista EIA Montoya-Torres, Jairo R. http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 info:eu-repo/semantics/publishedVersion http://purl.org/redcol/resource_type/ART http://purl.org/coar/resource_type/c_2df8fbb1 https://revistas.eia.edu.co/index.php/reveia/article/view/167 info:eu-repo/semantics/openAccess http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 info:eu-repo/semantics/article Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0. Revista EIA - 2013 https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 Inglés Text http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 Publication Journal article redes de Petri La modélisation des systèmes de production est difficile en raison du nombre et de la diversité des paramètres à prendre en compte et de la complexité des relations entre ces paramètres. Dans cet article, nous nous intéressons à l’étude d’une unité complètement automatisée de fabrication de wafers semi-conducteurs (fab). Dans la littérature, leur analyse est très souvent réalisée en utilisant des modèles de simulation à événements discrets, mais ces travaux ne présentent pas une véritable conceptualisation du modèle utilisé. L’objectif de cet article est de conceptualiser, à travers des méthodologies formelles, tous les composants d’une unité de production microélectronique: au niveau macro, le système physique de production et son système de supervision, ainsi que, au niveau micro, le processus de fabrication. Ces approches nous aideront à identifier les objets du modèle et leurs interactions permettant ensuite de développer un programme de simulation pour l’analyser du fonctionnement dynamique du system.Resumen: La modelación de los sistemas de producción es una tarea difícil debido al número y diversidad de variables que deben tenerse en cuenta y a la complejidad de las relaciones entre dichas variables. En este artículo, nos interesamos en el estudio de una unidad completamente automatizada para la fabricación de “wafers” semiconductores (llamada “fab”). En la literatura, el análisis se realiza comúnmente empleando modelos de simulación de eventos discretos, pero esos trabajos no presentan una verdadera conceptualización del modelo empleado. El objetivo de este artículo es conceptualizar, por medio de metodologías formales de modelación, todos los componentes de una planta de fabricación microelectrónica: en el nivel macro, el sistema físico de producción y su sistema de control, así como, en el nivel micro, el proceso de fabricación. Estos enfoques nos ayudarán a identificar los objetos del modelo y sus interacciones para permitir así el desarrollo de un programa de simulación para analizar el funcionamiento dinámico del sistema. application/pdf modélisation semi-conducteurs process-interaction réseaux de Petri. Palabras claves modelación semiconductores MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE 2463-0950 https://revistas.eia.edu.co/index.php/reveia/article/download/167/636 24 9 2013-10-09 00:00:00 2013-10-09 00:00:00 2013-10-09 https://revistas.eia.edu.co/index.php/reveia/article/view/167 1794-1237 |
institution |
UNIVERSIDAD EIA |
thumbnail |
https://nuevo.metarevistas.org/UNIVERSIDADEIA/logo.png |
country_str |
Colombia |
collection |
Revista EIA |
title |
MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE |
spellingShingle |
MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE Montoya-Torres, Jairo R. redes de Petri modélisation semi-conducteurs process-interaction réseaux de Petri. Palabras claves modelación semiconductores |
title_short |
MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE |
title_full |
MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE |
title_fullStr |
MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE |
title_full_unstemmed |
MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE |
title_sort |
modélisation conceptuelle d’une unité de fabrication microélectronique |
title_eng |
MODÉLISATION CONCEPTUELLE D’UNE UNITÉ DE FABRICATION MICROÉLECTRONIQUE |
description_eng |
La modélisation des systèmes de production est difficile en raison du nombre et de la diversité des paramètres à prendre en compte et de la complexité des relations entre ces paramètres. Dans cet article, nous nous intéressons à l’étude d’une unité complètement automatisée de fabrication de wafers semi-conducteurs (fab). Dans la littérature, leur analyse est très souvent réalisée en utilisant des modèles de simulation à événements discrets, mais ces travaux ne présentent pas une véritable conceptualisation du modèle utilisé. L’objectif de cet article est de conceptualiser, à travers des méthodologies formelles, tous les composants d’une unité de production microélectronique: au niveau macro, le système physique de production et son système de supervision, ainsi que, au niveau micro, le processus de fabrication. Ces approches nous aideront à identifier les objets du modèle et leurs interactions permettant ensuite de développer un programme de simulation pour l’analyser du fonctionnement dynamique du system.Resumen: La modelación de los sistemas de producción es una tarea difícil debido al número y diversidad de variables que deben tenerse en cuenta y a la complejidad de las relaciones entre dichas variables. En este artículo, nos interesamos en el estudio de una unidad completamente automatizada para la fabricación de “wafers” semiconductores (llamada “fab”). En la literatura, el análisis se realiza comúnmente empleando modelos de simulación de eventos discretos, pero esos trabajos no presentan una verdadera conceptualización del modelo empleado. El objetivo de este artículo es conceptualizar, por medio de metodologías formales de modelación, todos los componentes de una planta de fabricación microelectrónica: en el nivel macro, el sistema físico de producción y su sistema de control, así como, en el nivel micro, el proceso de fabricación. Estos enfoques nos ayudarán a identificar los objetos del modelo y sus interacciones para permitir así el desarrollo de un programa de simulación para analizar el funcionamiento dinámico del sistema.
|
author |
Montoya-Torres, Jairo R. |
author_facet |
Montoya-Torres, Jairo R. |
topic |
redes de Petri modélisation semi-conducteurs process-interaction réseaux de Petri. Palabras claves modelación semiconductores |
topic_facet |
redes de Petri modélisation semi-conducteurs process-interaction réseaux de Petri. Palabras claves modelación semiconductores |
citationvolume |
4 |
citationissue |
7 |
publisher |
Fondo Editorial EIA - Universidad EIA |
ispartofjournal |
Revista EIA |
source |
https://revistas.eia.edu.co/index.php/reveia/article/view/167 |
language |
Inglés |
format |
Article |
rights |
info:eu-repo/semantics/openAccess http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0. Revista EIA - 2013 https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 |
type_driver |
info:eu-repo/semantics/article |
type_coar |
http://purl.org/coar/resource_type/c_2df8fbb1 |
type_version |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
type_coarversion |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
type_content |
Text |
publishDate |
2013-10-09 |
date_accessioned |
2013-10-09 00:00:00 |
date_available |
2013-10-09 00:00:00 |
url |
https://revistas.eia.edu.co/index.php/reveia/article/view/167 |
url_doi |
https://revistas.eia.edu.co/index.php/reveia/article/view/167 |
issn |
1794-1237 |
eissn |
2463-0950 |
citationstartpage |
9 |
citationendpage |
24 |
url3_str_mv |
https://revistas.eia.edu.co/index.php/reveia/article/download/167/636 |
_version_ |
1797159140717494272 |